La fluorescencia de rayos X (XRF) es un método analítico no destructivo que se utiliza para determinar las concentraciones elementales en varios materiales.
pXRF funciona impactando una muestra con un haz de rayos X de un tubo de rayos X, lo que hace que los rayos X característicos de cada elemento se emitan de la muestra. Un detector mide la energía y la intensidad (número de rayos X por segundo a una energía específica) de cada rayo X, que se transforma en una concentración elemental utilizando una técnica no estándar, como parámetros fundamentales o curvas de calibración generadas por el usuario.
La presencia de un elemento se identifica por la longitud de onda o energía de emisión de rayos X característica del elemento. La cantidad de un elemento presente se cuantifica midiendo la intensidad de la emisión de rayos X característica de ese elemento.
Los fotones de rayos X primarios de alta energía se emiten desde un tubo de rayos X y golpean la muestra.
La energia fluorescente se transfiere a un detector, donde se absorve y se transfiere a una señal eléctrica y luego a un número (digitalizado)
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